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emergência da carga formada por átomos excessivos de silício em óxido sobre borda com um cristal. Como os átomos de silício estão muito no mecanismo da formação de óxido de silício, a carga positiva criada pelos átomos permanecidos de silício forma-se. Em uma temperatura normal esta carga não é quase móvel, em muito alta temperatura e existência de um campo forte esta carga movimentos na direção para uma superfície externa de óxido de um filme (SiO;

Os resistores verificam o nível da terceira gaita. Condensadores de película fina (TPK) cheque do esgotamento dielétrico, use os parâmetros que caracterizam a confiança de um campo interno no dielétrico, considere a densidade da carga de volume acumulada no anexo a TPK da tensão constante perto de microbordas isto é em áreas da localização de um campo.

Muitos pesquisadores que se envolvem na confiança de REA em vários trabalhos, mostraram que o próprio barulho de PPP, electrovacuum dispositivos, resistores, tomadas de tomada, contatos do revezamento e outros elementos REA carrega a informação sobre a sua confiança.

Muitos pesquisadores observaram que os tipos principais de recusas de PPP e os esquemas integrados (IS) se predizem ao nível do seu LF do barulho, por isso, considera-se que por características de LF do barulho é possível de receber indicadores da confiança de PPP e É. Como o caráter de previsão é possível usar alguma das características consideradas: tensão eficaz de barulho, coeficiente barulhento, densidade espectral de poder, função de autocorrelação.